Form Talysurf PGI Optics

用于精密光學(xué)元件的*高精度測(cè)量?jī)x器

自從1984年**發(fā)布以來，F(xiàn)orm Taylsurf迅速成為測(cè)量非球面形狀誤差的光學(xué)制造商的優(yōu)選。

從那以后，我們?cè)谌蚍秶鷥?nèi)安裝了數(shù)千臺(tái)儀器，使得Talysurf PGI成為真正的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。

我們的磚利PGI(相位光柵干涉儀)技術(shù)使您能夠利用短測(cè)針測(cè)量大尺寸凹透鏡，實(shí)現(xiàn)*高精度的測(cè)量。

Taylor Hobson制造的這些觸針具有高剛度和低力度雙重優(yōu)勢(shì)，與同類產(chǎn)品相比，帶來更佳的精度和重復(fù)性。

*容易編程

*一鍵測(cè)量

*快速、**

*針對(duì)生產(chǎn)環(huán)境設(shè)計(jì)

*強(qiáng)大的分析工具提高您的產(chǎn)能和生產(chǎn)率

*省時(shí)的軟件功能

*自動(dòng)化軟件程序帶來可重復(fù)的高精度測(cè)量

*致力于光學(xué)計(jì)量

*新的寬量程測(cè)量?jī)x：可測(cè)量大尺寸凹透鏡，精度保持不變

測(cè)量?jī)x量程：14 / 28mm

系統(tǒng)噪聲：   <2nm Rq        

測(cè)量：     直徑可達(dá)300mm(單軌跡測(cè)量)

形狀誤差：  <100nm

*60mm/120mm觸針

致力于光學(xué)計(jì)量

滿足下一代光學(xué)元件不斷增長(zhǎng)的需求

深入的非球面衍射分析：

*輕松分析超過500個(gè)區(qū)帶的復(fù)雜衍射

*通過與設(shè)計(jì)直接對(duì)比來識(shí)別區(qū)帶直徑

*輸出衍射形狀誤差用于刀具路徑校正

快速X偏移校正的獨(dú)特解決方案：

*顯著縮短SPDT設(shè)置時(shí)間

*X偏移和形狀誤差可通過單一分析校正

*提高速度，節(jié)省時(shí)間

大直徑光學(xué)元件：

*技術(shù)優(yōu)越的單軌跡測(cè)量，長(zhǎng)度可達(dá)300mm

*在300mm的全長(zhǎng)內(nèi)達(dá)到上等的平直度

*SAG>28mm

散光分析：

*易于編程，使用程序來判定部件中是否存在散光

*輸出平均輪廓用于刀具路徑校正

*三維殘余表面生成，帶來先進(jìn)的更正

配件：

自動(dòng)化機(jī)動(dòng)工作臺(tái)保證精度：

*增加Y和/或旋轉(zhuǎn)式機(jī)動(dòng)工作臺(tái)，與一個(gè)精密的傾斜中央工作臺(tái)配合使用

*輕松編寫程序?yàn)閱蝹€(gè)或多個(gè)徑向軌跡測(cè)量提供選項(xiàng)

*自動(dòng)化散光分析—結(jié)合多個(gè)徑向軌跡測(cè)量來查看散光

*確保多個(gè)不同的操作員使用時(shí)也能獲得一致的**測(cè)量。

Form Talysurf PGI Matrix

全自動(dòng)化的快速、**的系統(tǒng)用于批量光學(xué)元件測(cè)量

易于安裝、測(cè)試和分析單個(gè)或多個(gè)部件，使其成為快速、準(zhǔn)確測(cè)試光學(xué)元件的理想系統(tǒng)。

Form Talysurf PGI Matrix的增強(qiáng)功能和軟件架構(gòu)支持移動(dòng)設(shè)備鏡頭、眼科透鏡、醫(yī)療和光纖、高功率LED和晶片透鏡陣列的高速測(cè)量

提高測(cè)量一致性和準(zhǔn)確性，同時(shí)縮短測(cè)量循環(huán)時(shí)間。Form Talysurf PGI Matrix提供一站式解決方案。

*容易編程

*簡(jiǎn)單易用

*超快速

*全自動(dòng)

*專門針對(duì)生產(chǎn)環(huán)境

*Form Talysurf PGI Matrix包含一個(gè)高精度旋轉(zhuǎn)式Y(jié)軸臺(tái)用于**、自動(dòng)化的部件定位。

測(cè)量?jī)x量程：28mm

噪聲：      <4nm Rq 

測(cè)量：     單一或多部件測(cè)量

形狀誤差：  <100nm

針對(duì)生產(chǎn)環(huán)境設(shè)計(jì)：

節(jié)省時(shí)間和**，不會(huì)損失精度

簡(jiǎn)單的復(fù)雜陣列設(shè)置、測(cè)量和分析：

*選擇部件設(shè)計(jì)來定義陣列布局。

—低密度、PCD、晶片等

*輕松選擇測(cè)量和分析數(shù)據(jù)的格式，可以選擇將結(jié)果存儲(chǔ)在選擇的位置

*選擇存儲(chǔ)結(jié)果的位置

*選擇要測(cè)量的“批”

*有關(guān)測(cè)量通過/失敗的實(shí)時(shí)反饋，并提供清晰的指示

*自動(dòng)分析顯示批結(jié)果統(tǒng)計(jì)

—允許瀏覽單個(gè)部件結(jié)果

*定義完整的脫機(jī)測(cè)量并傳輸?shù)絻x器進(jìn)行測(cè)量

*只需傳輸結(jié)果文件夾便可脫機(jī)查看和重新分析已完成的測(cè)量。

 連續(xù)測(cè)量